 |
 | Vissza |
Pápa Z.; Budai J.; Hanyecz I.; Csontos J.; Tóth Z.: Depolarization correction method for ellipsometric measurements of large grain zinc-oxide films. [Tanítási erőforrások, tanulási objektumok]
Tóth Z.; Hanyecz I.; Gárdián A.; Budai J.; Csontos J.; Pápa Z.; Füle M.: Ellipsometric analysis of KrF laser textured silicon surfaces. [Tanítási erőforrások, tanulási objektumok]
Kiss B.; Vass Cs.; Sipos Áron; Farkas B.; Hanyecz I.; Ujhelyi F.; Dombi Péter; Osvay Károly: Grating fabrication in dielectric coatings by TWIN-LIBWE. [Tanítási erőforrások, tanulási objektumok]
