Szerző: " Csontos J."

Pápa Z.; Budai J.; Hanyecz I.; Csontos J.; Tóth Z.: Depolarization correction method for ellipsometric measurements of large grain zinc-oxide films. [Tanítási erőforrások, tanulási objektumok]

Tóth Z.; Hanyecz I.; Gárdián A.; Budai J.; Csontos J.; Pápa Z.; Füle M.: Ellipsometric analysis of KrF laser textured silicon surfaces. [Tanítási erőforrások, tanulási objektumok]