Kérdések

Csiszolás

Méretre vágás

Lassú hűtés 

Polírozás

Lencsebefogó gyűrűk

Gömbhullámok interferenciájából kialakuló kép

Gömbfelület interferometrikus mérése esetén kialakuló interferencia mintázat.

Az AFM működése hasonlít a konfokális mikroszkóp működési elvéhez. 

A tű követi a minta felületén lévő kitüremkedéseket és bemélyedéseket.

A tű egy vékony, és ezáltal könnyen hajló konzol (kantilever) végén található.  

Egy hegyes tűt a minta felületén mozgatunk. 

Lézerfényt vetítenek a konzolos tartó csúcsára.

A tű apró rezgéseinek méréséből.

A tű és a felület közötti feszültség változásából.

Interferometrikus mód

Tapping mód 

Kontakt mód

Nem-kontakt mód

Nem túl jó térbeli felbontás

Kis vizsgálható terület

 Hosszú mérési idő

Polarizátor

Objektív 

Féligáteresztő tükör

Lyukdiafragma (pinhole)

Vagy a minta, vagy az objektív vízszintes irányban mozog.

Vagy a minta, vagy az objektív függőleges irányban mozog.

A minta vízszintes, az objektív függőleges irányban mozog.

RM és RB

RH és RA

RMS és RMSQ

RMS és RA

Azonos körülmények közt felvett RA érték mindig nagyobb.

Azonos körülmények közt felvett RMS érték mindig nagyobb.

Mindig megegyeznek.

Körülményektől függően hol egyik, hol másik.