Ellipsometric analysis of KrF laser textured silicon surfaces

Tóth Z.; Hanyecz I.; Gárdián A.; Budai J.; Csontos J.; Pápa Z.; Füle M.: Ellipsometric analysis of KrF laser textured silicon surfaces. [Tanítási erőforrások, tanulási objektumok]

[thumbnail of 2010-0012_15_03.pdf]
Előnézet
Szöveg
2010-0012_15_03.pdf

Letöltés (3MB) | Előnézet

Angol cím

Ellipsometric analysis of KrF laser textured silicon surfaces

Oktatási anyag típusa: Tanítási erőforrások, tanulási objektumok
Angol cím: Ellipsometric analysis of KrF laser textured silicon surfaces
Oldalszám: 1
Nyelv: angol
Tananyag típusa: handout, órai jegyzet
Projektek: TÁMOP-4.2.2/B-10/1-2010-0012
Kar: Természettudományi és Informatikai Kar
Szakterület: 01. Természettudományok
01. Természettudományok > 01.03. Fizikai tudományok
Feltöltés dátuma: 2020. Dec. 12. 13:59
Utolsó módosítás: 2020. Dec. 12. 13:59
URI: https://eta.bibl.u-szeged.hu/id/eprint/4298
Bővebben:
Tétel nézet Tétel nézet