- C1: Optikai alapok az ELI-ALPS tükrében - MSc
- Bevezető I.
- A lézerfizika alapelvei és bevezetés a nemlineáris optikába I.
- A lézerműködés alapelvei
- Gerjesztett kvantumállapotok spontán emissziója
- Indukált abszorpció és emisszió
- Populácóinverzió és erősítés
- Pozitív visszacsatolás és lézeroszcillációk
- Abszorpció telítődése
- Abszorpció és indukált emisszió, kvázi-klasszikus leírás
- Abszorpciós hatáskeresztmetszet, homogén vonalkiszélesedés
- Abszorpciós hatáskeresztmetszet, inhomogén vonalkiszélesedés
- Vonalkiszélesedést okozó hatások
- Gyakori lézerátmenetek paraméterei
- Rezonátorok
- Pumpálás
- Tesztkérdések I.
- A lézerműködés alapelvei
- A lézerfizika alapelvei és bevezetés a nemlineáris optikába II.
- A lézerfizika alapelvei és bevezetés a nemlineáris optikába III.
- Folytonos üzemű lézerek: rate-egyenletek, 4-nívós séma
- Lézerek hangolása
- Sokmódusú lézeroszcilláció homogén frekvenciakiszélesedés esetén
- Sokmódusú lézeroszcilláció inhomogén frekvenciakiszélesedés esetén
- Transzverzális egymódus-szelekció
- Longitudinális egymódus-szelekció
- Fabry-Perot etalonok, mint módusszelektív elemek
- Egymódus-szelekció egyirányú gyűrűrezonátorok segítségével
- Lézerfrekvencia fluktuációi és frekvenciastabilizáció
- Lézerintenzitás zaja és zajcsökkentés
- Q-kapcsolás
- Móduscsatolás (Mode locking)
- Tesztkérdések III.
- A lézerfizika alapelvei és bevezetés a nemlineáris optikába IV.
- Bevezetés a nemlineáris optikába
- Tesztkérdések IV.
- Az optikai méréstechnika alapjai I. - Az optikai méréstechnika eszközei
- Az optikai méréstechnika alapjai II. - Interferometria
- Az optikai méréstechnika alapjai III. - Fényszórás, polarizáció
- Az optikai méréstechnika alapjai IV.
- Tartalomjegyzék
- Bevezetés
- UV-látható spektroszkópia
- Infravörös spektroszkópia
- Raman spektroszkópia
- Lumineszcencia (fluoreszcencia) spektroszkópia
- Tesztkérdések VIII.
- Vékonyrétegek I.
- Vékonyrétegek II.
- Vékonyrétegek III.
- Vékonyrétegek IV.
Interferometrikus vibráció mérő elrendezések
Vibrációk mérésére többféle lehetőség van, az egyik elegáns módszer a lézeres interferometrián alapul, amely mikrovibrációk mérésére is alkalmas. A fázisérzékeny detektálás a hullámhossz 1/50 - 1/100 részével összemérhető amplitúdójú rezgések vizsgálatára is alkalmas.
A vibrációméréshez alkalmas interferométer egy Michelson-féle interferométer, ahol nagysebességű detektorral rögzítjük az csíkrendszer változásait egy adott pontban. Amennyibe a rögzítés sebessége legalább 8-10 x nagyobb a vizsgált rezgés frekvenciájánál, egy egyszerű szinusz illesztéssel meghatározható a vibráció amplitúdója és frekvenciája.
A mérés gyorsabbá és pontosabbá tehető, ha a fázistolást nem egy piezo mozgatóval végezzük, hanem az alsó ábra szerinti elrendezésben egyszerre mérjük a különböző fázisokat. Ezáltal növelhető a mérhető frekvencia tartomány. Ez utóbbi elrendezésben lehetőség van arra is, hogy a detektált hullámokat úgy dolgozzuk fel, hogy a mérést mindig a legnagyobb meredekséggel rendelkező szakaszban végezzük, ami növeli a felbontást.